2021-10-18 10:31:24变温介谱测试系统方案
变温介谱测试系统可实现变温、扫频下电学性能参数Cp、D、R等的测试,且可以画出Cp-T,R-T,D-T等特性曲线,测试过程全自动化,测试结果以用户自定义测试报告输出。...
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了解详情铁电材料测试系统解决方案实现铁电材料铁电、介电及热势电参数测试系统概述近来,铁晶体管以成为十分惹人注意的一类晶体,其原因在于他们具有相当优异的性能。许多电光品体、压电材料就是铁晶体管。铁晶体管无论在技术上或理论上都具有重要的意义。铁电材料皆具有多多方向自发极化的特性,在晶胞内的原......
了解详情100G+高速光电器件与相干光通信测试系统解决方案全面的表征40G/100G高速光电器件系统概述在当今的企业网、城域接入网中,光信号的速率已高达25 Gbps,使用多根多模光纤或者单根单模光纤同时传输4个波长的光信号,可以实现100 Gbps的高速数据链路。而对于骨干网上长距离的......
了解详情霍尔效应测试系统解决方案实现霍尔器件全部参数测试表征系统概述霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。当带电粒子(电子或空六)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直于电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场。与其他测试不同的是霍尔......
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