大功率器件动态参数测试方案

  功率器件作为电力电子技术的核心（IGBT，Power MOS，Power BJT，SCR，Thyristor，GTO），随着电力电子技术的发展，在工业，国防，民用等领域得到了广泛的应用，它对装置的总价值，尺寸、重量、动态性能，过载能力，耐用性及可靠性等，起着十分重要的作用，目前电力电子器件正沿着大功率化、高频化、集成化的方向发展，功率器件具有工作电压高，导通电流大，通态压降低，开关速度快易震荡等特点，目前，SiC和GaN功率器件技术迅速发展，这也给器件参数的测试和表征提出了很多挑战。

  随着开关频率的不断增加，器件的开关损耗超过静态损耗成为主要功耗来源，器件的动态参数也成为评估器件性能的重要参数。相对于器件的静态参数，动态参数主要表征的是器件在开启或关断瞬间的电学特性参数，动态参数的好坏决定了器件的开关性能，

迈微精仪科技可提供一整大功率器件动态参数测试方案，针对不同的测试需求，实现对不同种类的功率器件的各种常见的动态参数测量

系统特性

● 最高电压1200V，最大电流200A（短路/RBSOA测试1000A），更高的电流（最大2000A）和电压（最高10kV）范围可定制

● 可测参数：感性开关时间/开关损耗，阻性开关时间，栅极电荷，雪崩，短路耐量，RBSOA，二极管反向回复

● 温度范围：室温-175℃

● 为SiC和GaN测试专门优化的测试架构

● 主要器件类型：Power MOSFET，IGBT，Diode，可定制大功率BJT和晶闸管动态参数测试系统

● 可定制支持P型器件测试

● 定制化低寄生测试夹具，支持各种封装类型的功率器件

● 完善的安全保护装置，保证操作人员的安全

● 系统可升级扩展（定制化除外）

系统图片